熒光分布成像系統(tǒng)

發(fā)布時(shí)間：2020-01-08 09:39:57瀏覽次數(shù)：次

產(chǎn)品創(chuàng)新點(diǎn)
上市時(shí)間：2019年10月
創(chuàng)新點(diǎn)主要有兩個(gè)方面：硬件方面：全球首創(chuàng)將將熒光分光度計(jì)與CMOS相機(jī)結(jié)合在一起，能夠同時(shí)觀察樣品光譜和圖像的技術(shù)。軟件方面：運(yùn)用了智能光譜算法，可以獲取樣品任意區(qū)域的光譜信息。常規(guī)的熒光分光光度計(jì)測得的是樣品表面信息平均化的信號，得到的是一條熒光光譜，這個(gè)新的系統(tǒng)能夠?qū)悠繁砻孢M(jìn)行分區(qū)，從而獲得不同區(qū)域的光譜信號，使得光譜信息細(xì)致化了。

產(chǎn)品簡介

1. 熒光分布成像系統(tǒng)（EEM View）簡介

作為熒光分光光度計(jì)的配件系統(tǒng)，這是全球首創(chuàng)將相機(jī)與熒光分光光度計(jì)的完美結(jié)合，融合了智能算法的先進(jìn)技術(shù)。能夠同時(shí)獲取樣品圖像和光譜信息。

新型熒光分布成像系統(tǒng)可安裝到F-7100熒光分光光度計(jì)的樣品倉內(nèi)。入射光經(jīng)過積分球的漫反射后均勻照射到樣品，利用F-7100標(biāo)配的熒光檢測器可以獲得樣品熒光光譜，結(jié)合積分球下方的CMOS相機(jī)可獲得樣品圖像，并利用獨(dú)特的AI光譜圖像處理算法，可以同時(shí)得到反射和熒光圖像。

2. 熒光分布成像系統(tǒng)特點(diǎn)：
①測定樣品的光譜數(shù)據(jù)（反射光、熒光特性）
②在不同光源條件下（白光和單色光）拍攝圖像（區(qū)域：Φ20mm、空間分辨率：0.1 mm左右、波長范圍：360-700nm）
③利用自主研發(fā)的分析系統(tǒng)1)，分開顯示熒光圖像和反射圖像
④根據(jù)圖像可獲得不同區(qū)域的光譜信息（熒光光譜、反射光譜）

國立信息學(xué)研究所佐藤IMARI 教授?鄭銀強(qiáng)副教授共同研究成果
熒光分布成像系統(tǒng)軟件分析（EEM View Analysis）界面(樣品：LED電路板)

樣品安裝簡單，適用于各種樣品測試
樣品只需擺放到積分球上，安裝十分簡單！
豐富的樣品支架

支持精確測量的校正工具

總結(jié)
以上為熒光分布成像系統(tǒng)的特點(diǎn)和功能結(jié)束，這是一種全新的技術(shù)，將它配置到熒光分光光度計(jì)中，改變了常規(guī)熒光光度計(jì)只能獲得樣品表面區(qū)域平均化信息的現(xiàn)狀，可以查看樣品圖像任意區(qū)域的光譜信息，十分適合涂料、材料、油墨、LED、化工等領(lǐng)域。

注：該儀器未取得中華人民共和國醫(yī)療器械注冊證，不可用于臨床診斷或治療等相關(guān)用途

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